< 국민대 첨단기기 분석 세미나 포스터, 이미지 제공 : 국민대 >

국민대학교(총장 정승렬) 산학협력단 공동기기원이 오는 21일부터 26일까지 사흘 동안 국민대학교 공학관 및 산학협력관에서 ‘첨단기기 분석 세미나’를 개최한다고 밝혔다.

국민대 공동기기원과 LINC 3.0 사업단이 공동으로 주최하고 산업통상자원부 반도체전공트랙사업단이 후원하는 이번 ‘첨단기기 분석 세미나’는 4명의 현직 첨단기기 분석 전문가들을 초청해 대학(원)생뿐만 아니라 산학협력 가족회사 임직원들을 대상으로 장비별·분야별 특성에 맞는 이론 교육 및 실습 기회를 제공하여 첨단 연구 장비의 공동 활용을 촉진하기 위해 마련됐다.

특히 이번 세미나에서는 표면·구조 분석 장비를 주제로 X선 회절분석기(XRD), 투과전자현미경(TEM), X선 광전자 분광기(XPS), 주사전자현미경(SEM) 등에 대한 교육과 실습이 진행될 예정이다.

21일에는 한국ITS 이종식 고문이 ‘XRD : X-ray를 이용한 결정구조 분석’을, Jeol Korea 박중식 책임이 ‘TEM: 투과전자현미경의 각부 역할과 회절분석 및 EDS분석법’을, 22일에는 국민대학교 류일환 박사가 ‘XPS: 광전자 분석법의 기초 및 응용’을 주제로 세미나를 진행한다.

26일에는 오는 11월 신규 도입 예정인 FE-SEM(SU8700)에 대해 ㈜이공교역 강주영 과장이 ‘SEM: 주사전자현미경의 원리와 응용 및 신규 도입 설비 소개(SU8700)’을 주제로 산업현장과 실험실에서 필요로 하는 연구 장비를 활용해 데이터를 산출 및 해석에 필요한 전문지식과 노하우를 제공한다.

김대정 국민대학교 공동기기원장(전자공학부 교수)은 “우리 대학은 특성화 분야 인프라 확충을 통한 융복합 인재 양성 체계와 산학연협력 고도화에 앞장서 왔다”라며 “앞으로 대학이 보유한 첨단 연구 장비의 공동 활용을 촉진하기 위해 분야별·수준별 교육 프로그램을 더욱 확대하겠다”라고 말했다.

한편, 이번 첨단기기 분석 세미나는 연구 장비 활용에 관심이 있는 사람이면 누구나 국민대 공동기기원 홈페이지를 통해 신청 가능하며 교육비는 전액 무료다. 교육 이수자에는 국민대 공동기기원장 명의의 수료증도 수여할 예정이다.

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